太陽能電站IR熱影像空拍


太陽能電站IR熱影像空拍

由於紅外線熱影像空拍的檢測便利性,已經逐漸成為電站驗收與維運的標準測試項目。為什麼這個測試這麼受歡迎?到底熱影像能看到什麼問題?


IR檢測什麼?

IR檢測是用紅外線攝影機擷取物體所發出的紅外輻射,然後由紅外輻射強度可以計算出每個位置的溫度。因此IR檢測主要就是檢查是否有溫度異常的現象,由溫度異常的狀態也可以推估各種太陽能系統的缺陷。IEC62446-3提供戶外IR檢測的技術指引(非標準),其中提到一個重點,IR檢測主要由發熱模式來判斷故障類別,而非單純由溫度來決定。因此,辨識發熱模式比溫度值更重較,更不能以溫差作為判定異常的絕對標準。以下就標準裡所列舉的發熱模式為例,為大家介紹如何對應鑑定故障類別。

 

1. 模組串列開路

下圖是模組串列開路的典型熱影像,特徵是有一串模組的溫度均勻地高於其他串列。在這個圖裡可以看出這一串模組的顏色有明顯差異,表示其溫度與其他模組有差異。但是在此要提醒各位,不要以為有色差就代表溫差大,開路模組的溫度只比一般模組高2℃左右。這又點到前面所說的一個重點,不要以溫差作為絕對的異常判斷標準,一般模組裡溫差2℃是正常的範圍,但是如果看到一整串模組都均勻的高2℃,它就是典型的模組串開路。要驗證也很簡單,找出模組串列分佈圖,比對開路的模組位置是否與模組串分佈吻合,就可以確認是哪一串開路。

模組串列開路

 

2. 模組短路

下圖是模組短路的典型熱影像,特徵是模組內有一些電池片溫度特別高,而且且溫度不均勻位置隨機分佈。這種短路造成的溫差有可能在10℃內,再次印證不能用溫差作為異常判斷標準。一般模組內有10℃以下的溫差,通常是正常的,但是如果出現下圖的模式,則是典型的短路異常。

 

模組短路

 

3. 前玻璃破裂

下圖是模組前玻璃破裂的典型熱影像,特徵是模組內有一到兩片電池片溫度特別高,其他電池片有溫度不均勻的現象。這個現象跟上述模組短路有點像,差別在高溫的電池片數量較少,通常是玻璃破裂原點的電池片破裂比較嚴重,導致該電池片的高溫。但是要特別說明,玻璃破裂未必都會形成這種發熱模式,在玻璃剛破的時候可能溫度沒有異常,或者玻璃破裂沒有引發電池嚴重破裂,又或者玻璃破裂導致所有電池片都嚴重破裂,其發熱型式都不會與下圖相同。因此需要經驗判斷,加上其他的觀察佐證。

 

模組前玻璃破裂

 

4. 模組內電池子串短路

下圖是模組內電池子串短路的典型熱影像,特徵是模組內的一串電池片有一些電池片溫度特別高,且溫度不均勻。常見的原因是旁路二極體短路,或旁路二極體啟動。此種現象牽涉到比較多可能性,需要進一步確認是二極體故障,或電池受損等其他可能性。

 

模組內電池子串短路

 

5. 模組內電池子串開路

下圖是模組內電池子串開路的典型熱影像,特徵是模組內的一串電池片溫度特別高,且溫度均勻。常見的原因是焊接不良,其背後的問題更大,詳見另一篇文章深入分析-PV新技術的可靠度問題- 接線盒焊接不良。

模組內電池子串開路

 

6. 單一電池發熱

下圖是模組內單一電池發熱的熱影像,常見的原因是電池破裂。溫差有可能到達數十度,會造成周邊封裝材料的損傷。

 

單一電池發熱

 

例如下圖的電池片破裂造成局部壞死區域,這種電池片壞死區域造成的高溫經過一段時間會逐漸使封裝材黃化,甚至燒穿背板(如下圖),進一步造成漏電問題。

 

 

電池片壞死區域

  

壞死區域造成EVA黃化與背板燒穿

 

電池片隱裂的原因比較複雜,有可能模組出廠的時候就有,也可能在運輸過程發生,也常見在安裝時踩踏造成,或者維運清洗時造成。如果安裝多年後才發現,通常難以判斷發生的原因。因為單純隱裂沒有造成壞死區域的話,不會發生高溫熱班,用IR檢測也看不到。等到隱裂逐漸成長造成壞死區域,才會開始有高溫現象出現。為了確認問題責任歸屬,最好在模組上架安裝前做一次EL抽測,安裝完成後驗收時對系統再做串列檢測,如此可以看到是否有初始隱裂存在,並且留下紀錄方便未來釐清責任。

 

7. 遮陰造成的熱斑

鳥糞、樹葉等異物遮擋也會造成熱斑現象(如下圖),需要比對可見光影像與熱影像來確認是否為遮蔽造成。所幸異物遮蔽造成的熱斑很容易排除,把模組清潔乾淨就恢復正常了。重點是要早期發現,儘快處理,才能減少發電損失,也避免長期過熱導致封裝材與接線盒損傷。

遮陰造成的熱斑

  

8. 串聯焊帶發熱

下圖是串聯焊帶發熱的熱影像,特徵是發熱點在電池片之間的焊帶位置。這有可能是焊帶斷裂或其他原因造成,需要進一步調查釐清。

 

串聯焊帶發熱

 

9. 接線盒高溫

下圖是接線盒高溫的熱影像,可能是接線盒內接觸不良導致的高溫。二極體故障也有可能導致高溫,需要進一步調查才能確認原因。

接線盒高溫

 

總結

太陽能IR熱影像空拍已成為電站檢測的必要項目,因為IR檢測可以找到很多肉眼看不到的問題,而且檢測成本不高,算是CP值很高的檢測項目。另一方面,IR檢測只能看到溫度異常,存在許多盲點,需要其他檢測手法來補其不足之處,深入探討可參考以下延伸閱讀的文章。

 

 

延伸閱讀:

·      使用EL輔助IR檢測的盲點

·      EL檢測技術介紹

·      太陽能系統檢測工具(上)

·      太陽能系統檢測工具(下)

 

關於作者:

林敬傑博士,業界朋友們暱稱為「傑博」

2004年在工研院從事太陽能模組研發

2005年與德國萊因技術合作,在臺灣建立亞洲第一個太陽能檢測認證實驗室

2007年擔任德資企業a2pak Power茂暘能源技術長

2011年成立顧問公司PV Guider,提供專業諮詢與電站品質管控等服務

 

目前擔任:

PV Guider首席顧問

CNS國家標準審議委員

國際能源總署IEA PVPS Task 13太陽能可靠度工作組技術專家兼共同主持人

SEMI產業標準技術委員會主席

EUPVSEC國際太陽能研討會技術委員





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