太陽能五四三

  PV 新技術的可靠度問題 - LID 與 LeTID   LID 與 LeTID 曾經是讓業界很困擾的電池衰退模式，經過多年電池技術提升，此問題已逐漸克服。最新的 TOPCon 模組是否還有這個問題？

  PV 新技術的可靠度問題 - 半切電池隱裂 新技術可能帶來新問題，本系列文章帶您了解目前新技術伴隨的潛在風險，以及可能的解決方案。 這一篇是關於半切電池片的隱裂問題，目前主流模組產品都使用切割過的電池片，然而切割過程會留下一些初始缺陷甚至微隱裂，在模組封裝過程中轉變為可見的隱裂。